Высокочувствительный прибор для обнаружения низкоконтрастных дефектов в оптически непрозрачных материалах создали ученые Аналитического и технологического исследовательского центра «Высокие технологии и наноструктурированные материалы» физического факультета Новосибирского государственного университета совместно с коллегами из Института физики полупроводников имени Ржанова СО РАН. В основе разработки – использование терагерцового излучения для бесконтактной диагностики покрытий, она поможет создать технологии неразрушающего контроля для промышленных применений,сообщается на сайте НГУ.
«Важная особенность нашего прибора заключается в том, что при его создании мы применили разработанные нами излучатель и высокоэффективные компактные тонкопленочные поляризационные элементы на основе метаматериалов – искусственных материалов с необычными оптическими свойствами», – рассказал старший научный сотрудник лаборатории Сергей Кузнецов
Прибор позволяет обнаружить скрытые внутренние дефекты материала при сканировании пучком излучения вдоль его поверхности.
Ученые продемонстрировали перспективность разработанного ими субтерагерцового эллипсометра для неразрушающего контроля авиационных углепластиков.
Исследования проводились на композитных материалах на основе углеродных волокон, предоставленных ФГУП «СибНИА им. С.А. Чаплыгина». Данные материалы применяются в авиастроении для создания несущих элементов легкомоторных летательных аппаратов — крыльев и фюзеляжа. С помощью экспериментального макета прибора удалось выявить в структуре композита приповерхностные расслоения на ранних стадиях их образования, что критически важно, поскольку при полетных нагрузках процесс расслоения неизбежно усиливается.
Фото с сайта НГУ
